LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
 

一、概述：
    LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
計算機自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低，消除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
二、主要技術(shù)特性：
Q 值測量范圍:        2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差:≤ 7 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍:        4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍:    1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍:      18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準確度:    100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz ～ 160MHz
頻率分段（ 虛擬 ）:  100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差:        3 × 10 -5 ± 1 個字
三、夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸：  Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調(diào)范圍： ≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：  0.001mm
四、配置：
主機    一臺
電感    九支
夾具    一套
隨機文件一套